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納米激光粒度儀(動態(tài)散射光DLS)基礎(chǔ)知識問答

發(fā)布時間 | 2015-07-14 10:10 分類 | 粉體加工技術(shù) 點擊量 | 19233
粒度儀
導(dǎo)讀:隨著納米技術(shù)的繁榮發(fā)展,基于DLS技術(shù)的納米激光粒度儀也日益普及,掌握其基本特性及基礎(chǔ)知識,相信會對關(guān)注納米粉體材料的粉體圈內(nèi)人士有所幫助。

隨著納米技術(shù)的繁榮發(fā)展,基于DLS技術(shù)的納米激光粒度儀也日益普及,掌握其基本特性及基礎(chǔ)知識,相信會對關(guān)注納米粉體材料的粉體圈內(nèi)人士有所幫助。

 

本文將以問答的形式,向讀者介紹一些納米激光粒度儀的基本常識

 

1、納米激光粒度儀的測量原理是什么?

由于分子熱運動,懸浮介質(zhì)(多數(shù)情況下是水或者有機溶劑)的分子不斷運動,和懸浮的顆粒物產(chǎn)生碰撞,使得分散體或溶液中的小顆粒做無規(guī)則的布朗運動。可以通過觀測散射光隨時間的波動性得到顆粒布朗運動的速度,這種技術(shù)被稱為光子相關(guān)光譜法(PCS)或準(zhǔn)彈性光散射法(QELS),但現(xiàn)在通常稱作動態(tài)光散射法(DLS)。斯托克斯-愛因斯坦方程定義了顆粒布朗運動速度與顆粒大小之間的關(guān)系:


其中,D =擴散速度,k =波爾茲曼常數(shù),T =絕對溫度,h =粘度,DH =流體力學(xué)直徑

 

上述關(guān)系式清楚地表示了在樣品溫度和連續(xù)相粘度已知的情況下,如何根據(jù)擴散速度測定粒徑。盡管必須是控制檢測溫度,但很多商用儀器還是會對溫度進行測量;而對于許多分散劑,尤其是水而言,粘度是已知的。在很多情況下,DLS實驗所需的補充信息也僅僅是粘度測量。

 

2、納米激光粒度儀有何性能優(yōu)勢?

納米激光粒度儀法在測量0.1 nm ~ 10 μm范圍的粒徑時十分出色。它在測量小顆粒方面的能力尤為突出,對于絕大多數(shù)待測體系提供2nm及以上的準(zhǔn)確、可重復(fù)的數(shù)據(jù)。從理論上講,檢測低密度分子的粒徑僅僅受到儀器靈敏度的限制。無論是稀釋樣品還是混濁樣品都可以用DLS法來進行測量,可分析的濃度范圍最低可至0.1ppm,最高可達40%w/v。不過,由于樣品濃度會大大影響其外觀尺寸,因此當(dāng)粒子含量較高時對樣品的制備需要加倍小心。

 

3、納米激光粒度儀有何局限性?

A、對密度較大顆粒而言,沉降是可能導(dǎo)致分析不準(zhǔn)確的一個潛在問題。例如,對于密度為10g/ml的顆粒,最大檢測粒徑通常會限制在大約100nm以內(nèi)。應(yīng)對的辦法有提高分散介質(zhì)的密度。例如使用蔗糖溶液作分散介質(zhì)。存在較大的超出儀器量程的顆粒時,這類顆粒應(yīng)該事先被過濾掉。或者,如果大顆粒的存在量極少也可以通過軟件進行處理。

B、納米激光粒度儀分辨率較低。動態(tài)散射光技術(shù)不屬于高分辨率的技術(shù)。當(dāng)樣品的粒度分布排列十分密集,且存在三種以上的粒度分布差異時,DLS 將無法對多重分散樣品進行精確表征。在這種情況下,建議最好在測量之前對樣品進行分離;而在測量方法上,則需要將DLS與制備技術(shù)如凝膠滲透法或尺寸排除色譜法(GPC / SEC)和(或)流場分離技術(shù)(FFF)聯(lián)合使用。

C、多重光散射問題無法絕對避免。多重散射是指從一個顆粒發(fā)出的散射光在到達探測器之前又會被其它粒子再次散射,在較致密的樣品中,這種現(xiàn)象會使粒徑計算的精確度受到影響。

 

4、納米激光粒度儀操作使用是否很復(fù)雜?

納米激光粒度儀聽起來似乎是神秘的高科技產(chǎn)品,但是其使用操作流程并不復(fù)雜。其固有的操作簡便性使得操作者無需具備很強的專業(yè)知識就能正確使用儀器,一般分析過程,從制備樣品到完成測試只需要幾分鐘的時間。并且樣品分散介質(zhì)的選擇自由度大,不管是水性還是非水性的,只要它們呈透明狀并且不太粘稠,基本都可以使用。這種測試方法所需的樣品量也很小,最少時只需要幾微升即可,這一點對于較為貴重的樣品來說,是有巨大優(yōu)勢的。

 

5、如何選擇納米激光粒度儀的分散劑?

雖然大多數(shù)分散劑都適用于納米激光粒度儀,但如果分散劑粘度大于100mPa.s,往往會影響測量的可靠性,另外分散劑對光的吸收也會對檢測產(chǎn)生干擾。比如有色樣品的散射光強度可能會有所降低。一種可行的解決方案是根據(jù)系統(tǒng)的靈敏度,采用不同的激光波長進行分析或?qū)悠愤M行稀釋。樣品中的熒光也會對信噪比造成影響,但可以通過使用窄帶濾波器來解決,以排除熒光雜散光的影響。

 

6、納米激光粒度儀的核心光電探測器是什么類型的?

光電探測器有兩種類型:一種是便宜、靈敏度較低的光電倍增管PMT,另一種是較昂貴的、性能更好的雪崩光電二極管檢測器(APD)。后者宣稱效率高達65%,遠遠優(yōu)于替代產(chǎn)品PMT 4-20%的效率,從而使數(shù)據(jù)收集最大化,測量速度更快、質(zhì)量更高。

 

7、環(huán)境溫度對納米激光粒度儀的影響。

要獲得精確的測量數(shù)據(jù),另一項基本要求是必須對溫度進行很好的控制。如同分散劑粘度一樣,顆粒的布朗運動也直接和溫度相關(guān),因此溫度控制較差造成的影響非常嚴(yán)重。例如,在環(huán)境溫度下對水性體系進行測量,1oC的溫度誤差將導(dǎo)致2.4%的檢測結(jié)果偏差,超過ISO13321 [1]標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的+/-2%或更新的ISO 22412[2]標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍。對于使用的各類比色皿,納米激光粒度儀溫度控制的合理目標(biāo)是+/-0.2oC。比起在檢測儀外部連接水浴裝置,內(nèi)置溫度控制器在使用上更加方便,在測量精度、穩(wěn)定性和重現(xiàn)性方面也更加可取。此外,具有高性能控制系統(tǒng)的儀器,既能進行快速的系統(tǒng)預(yù)熱,又能迅速調(diào)整溫度,從而對溫度變化所產(chǎn)生的影響(如蛋白質(zhì)熱不穩(wěn)定性)進行研究。

 

8、納米激光粒度儀除了測試粒度分布,還有其它用途嗎?

納米激光粒度儀除了被廣泛應(yīng)用于粒度測量外,專業(yè)化程度較高的DLS系統(tǒng)組件的組合也適合用于進行如下測量:絕對分子量、 Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、微流變學(xué)性能。除了粒徑, zeta電位也是表征膠體系統(tǒng)時用最廣泛使用的測量參數(shù)之一。Zeta電位量化了粒子之間靜電排斥作用的程度。這種量化不是針對顆粒表面之間,而是針對顆粒邊界層內(nèi)的某個點之間的排斥力,在這個點之外,顆粒對周圍的溶劑分子不再產(chǎn)生影響。Zeta電位測量為分散體固有的靜電穩(wěn)定性提供了有效參考,配方設(shè)計師可因此對穩(wěn)定性進行了解和控制。例如在乳液配方中,zeta電位數(shù)據(jù)幫助篩選穩(wěn)定性候選樣品,將它們用于水處理絮凝過程控制,有助于減少添加劑的劑量水平。

 

小結(jié):DLS是一項比較成熟的技術(shù),可為各種類型的樣品進行粒徑和分子尺寸測量。光散射系統(tǒng)在測量粒徑的同時,還可以測量分子量、蛋白質(zhì)電荷和Zeta電位,甚至還能具有微流變學(xué)測量功能。除了儀器本身的性能以外,還有其它因素也會影響儀器全壽命周期成本。儀器是否易于維護保養(yǎng),測試軟件操作是否便利等問題都是值得關(guān)注的問題。當(dāng)前由于能夠提供這類儀器的供應(yīng)商相對較少,納米激光粒度儀還是一種高大上的貴重儀器。不過隨著應(yīng)用的普及,及相關(guān)儀器制造企業(yè)推出相應(yīng)有競爭力的新產(chǎn)品,相信不久的將來,價格更具優(yōu)勢,性能滿足常規(guī)技術(shù)需求的納米激光粒度儀將會出現(xiàn)在大家眼前。


(粉體圈 作者:沐恩)


作者:粉體圈

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