蔡司公司是世界可見光及電子光學的領導企業(yè)，在光學儀器和精密測量儀器方面素有盛名。

最近他們?yōu)樗业?/span>ZEISS Xradia 3d x射線顯微鏡和 X射線計算機斷層成像系統(tǒng)推出了高級重建工具箱。工具箱中包含了這兩個模塊: 一是升級的ZEISS OptiRecon三維重建；二是ZEISS DeepRecon，顯微鏡領域的第一個商業(yè)化深度學習重建技術。

其中，ZEISS高級重建工具箱是一種基于超越典型的“濾波背投”或 Feldkamp-Davis-Kress (FDK)算法的先進重建技術，這個基于AI的工具箱可以實現(xiàn)更少的投射，根據(jù)模塊和材料的不同，掃描時間最多可減少10倍。這些發(fā)展可以改善數(shù)據(jù)收集和分析，以加快決策；而ZEISS OptiRecon可以讓研究人員通過改善對比度-噪聲比，在廣泛的樣品類別上實現(xiàn)卓越的內部斷層掃描或吞吐量，并將具有重復性工作流程的樣品類別的速度提高了一個數(shù)量級。與此同時，ZEISS OptiRecon和ZEISS DeepRecon模塊都能很好地保持圖像質量，這些新功能解決了傳統(tǒng)的選擇圖像質量或樣本吞吐量的問題。

韓國東信大學的J.H.Shim博士曾是電子行業(yè)的首席研究員，他在談到典型的研究應用時提到，由于OptiRecon和DeepRecon能夠在很短的掃描時間和很少的投影數(shù)量下實現(xiàn)聚合物分離器的可視化，因此它們對于電池行業(yè)的客戶來說是非常棒的應用。

資料來源：蔡司

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