近日,美國(guó)研究人員一項(xiàng)能夠在2050攝氏度條件下檢測(cè)氧化鋯的研究成果發(fā)表在Nano Letters(納米快報(bào))上。他們利用激光加熱結(jié)合電子顯微鏡在超高溫下對(duì)微細(xì)納米航空材料進(jìn)行測(cè)試評(píng)估,相比傳統(tǒng)測(cè)試方法更低成本更快捷。
報(bào)告題目:“In situ transmission electron microscopy for ultrahigh temperature mechanical testing of ZrO2”
DOI: 10.1021/acs.nanolett.9b04205
伊利諾伊大學(xué)香檳分校材料工程學(xué)教授Shen Dillon稱(chēng),目前為止,研究人員還無(wú)法對(duì)飛行器關(guān)鍵部件在極端溫度下(如高速飛行狀態(tài)下)進(jìn)行微觀材料試驗(yàn)。“微觀尺度下進(jìn)行機(jī)械測(cè)試可以從原子層面看到缺陷,但在1000攝氏度以上的超高溫環(huán)境下,測(cè)試機(jī)制本身就會(huì)被破壞。”這影響了火箭、車(chē)輛等商業(yè)化新材料的開(kāi)發(fā)進(jìn)度。
Shen Dillon和桑迪亞國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的合作者將電子顯微鏡和靶向激光加熱結(jié)合到一起,這讓他們可以在樣品蒸發(fā)臨界溫度下觀測(cè)材料發(fā)生形變的全過(guò)程。該研究測(cè)試了包括用于燃料電池以及熱障涂層的氧化鋯材料。Shen Dillon相信在未來(lái)會(huì)有更多研究人員會(huì)使用這種技術(shù)便捷地進(jìn)行材料高溫測(cè)試。
報(bào)告作者email:sdillon@illinois.edu.
粉體圈 編譯 YUXI
作者:粉體圈
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