2018年8月10日，中國顆粒學會第十屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會在遼寧省沈陽市盛大開幕，會期三天。其中，真理光學儀器有限公司作為本次會議的贊助單位，參與了此次盛會。

大會圍繞顆粒學及其技術在開發人類需要產品過程中所發揮的關鍵作用進行了深度研討。其中，主場上真理光學首席科學家張福根博士作了題為“激光衍射法粒度測量的若干基礎理論與技術問題研究”的報告，詳細闡述了激光粒度儀的測量原理。

張博士在報告中提到，他及他帶領的真理光學研發團隊發現，散射光斑有時會隨顆粒的增大而增大，這種現象稱之為愛里斑尺寸的反常變化（ACAD）。真理光學研發團隊根據ACAD規律，開發出全新的反演算法，無需任何軟件方面的“特殊處理”，就能得到正確的測量結果。

儀器展覽區內，來自真理光學的LT2200系列激光粒度分析儀和Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀吸引眾多目光。據介紹，LT2200系列激光粒度儀加持了真理光學獨創的偏振濾波專利技術，摒棄傳統的針孔和機械調整，實現高穩定激光偏振設置和空間濾波；它的測量速度高達創紀錄的每秒20000次，確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒；粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥，電池材料，地質，水文，化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。

而另一個主角——Spraylink超高速實時噴霧粒度分析儀則使用了最優化的高靈敏度檢測和全息信號處理系統，并融合高濃度補償技術，可確保在高達90%的遮光度下準確測量霧滴顆粒的粒度分布，且無需更換透鏡，粒徑范圍高達0.1um-2080 um。

如今大會已經落幕，但真理光學對于顆粒學領域的技術探索不會停止。期待在之后的日子里，能夠見到真理光學蓬勃發展，再創新績。

來源：真理光學

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