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一文認(rèn)識(shí)新型半導(dǎo)體GaN材料

發(fā)布時(shí)間 | 2017-09-05 14:16 分類 | 粉體應(yīng)用技術(shù) 點(diǎn)擊量 | 6356
導(dǎo)讀:目前,GaN材料的研究與應(yīng)用已成為半導(dǎo)體研究的前沿和熱點(diǎn),是研制微電子器件、光電子器件的新型半導(dǎo)體材料,并被稱為第三代半導(dǎo)體材料。

目前,GaN材料的研究與應(yīng)用已成為半導(dǎo)體研究的前沿和熱點(diǎn),是研制微電子器件、光電子器件的新型半導(dǎo)體材料,并被稱為第三代半導(dǎo)體材料。它具有寬的直接帶隙、強(qiáng)的原子鍵、高的熱導(dǎo)率、化學(xué)穩(wěn)定性好(幾乎不被任何酸腐蝕)等性質(zhì)和強(qiáng)的抗輻照能力,在光電子、高溫大功率器件和高頻微波器件應(yīng)用方面有著廣闊的前景。

 

 

一、GaN材料概述

 

1GaN材料特性

 

GaN晶體一般是六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)。它在一個(gè)元胞中有4個(gè)原子,原子體積大約為GaAs的一半。

 

 

氮化鎵晶體結(jié)構(gòu)

 

GaN是極穩(wěn)定的化合物,又是堅(jiān)硬的高熔點(diǎn)材料。特性如下:

 

1)高的化學(xué)穩(wěn)定性。在室溫下,GaN不溶于水、酸和堿,而在熱的堿溶液中以非常緩慢的速度溶解。NaOHH2SO4H3PO4能較快地腐蝕質(zhì)量差的GaN,可用于這些質(zhì)量不高的GaN晶體的缺陷檢測(cè)。GaNHClH2氣下,在高溫下呈現(xiàn)不穩(wěn)定特性,而在N2氣下最為穩(wěn)定。

 

2)高熔點(diǎn)。熔點(diǎn)約為1700℃。

 

3高的電離度。在Ⅴ族化合物中是最高的(0.50.43)。

 

4)高硬度。在大氣壓力下,因?yàn)槠溆捕雀撸质且环N良好的涂層保護(hù)材料。

 

2GaN材料的優(yōu)點(diǎn)

 

1)禁帶寬度大(3.4eV),熱導(dǎo)率高(1.3W/cm-K),則工作溫度高,擊穿電壓高,抗輻射能力強(qiáng)。

 

2)導(dǎo)帶底在Γ點(diǎn),而且與導(dǎo)帶的其他能谷之間能量差大,則不易產(chǎn)生谷間散射,從而能得到很高的強(qiáng)場(chǎng)漂移速度(電子漂移速度不易飽和)。

 

3GaN易與AlNInN等構(gòu)成混晶,能制成各種異質(zhì)結(jié)構(gòu),已經(jīng)得到了低溫下遷移率達(dá)到2625px2/Vs2-DEG(因?yàn)?/span>2-DEG面密度較高,有效地屏蔽了光學(xué)聲子散射、電離雜質(zhì)散射和壓電散射等因素)。

 

4)晶格對(duì)稱性比較低(為六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)或四方亞穩(wěn)的閃鋅礦結(jié)構(gòu)),具有很強(qiáng)的壓電性(非中心對(duì)稱所致)和鐵電性(沿六方c軸自發(fā)極化)。

 

總之,從整體來(lái)看,GaN的優(yōu)點(diǎn)彌補(bǔ)了其缺點(diǎn),特別是通過(guò)異質(zhì)結(jié)的作用,其有效輸運(yùn)性能并不亞于GaAs,而制作微波功率器件的效果(微波輸出功率密度上)還往往要遠(yuǎn)優(yōu)于現(xiàn)有的一切半導(dǎo)體材料。

 

不同半導(dǎo)體材料特性對(duì)比表



二、GaN材料制備

 

GaN材料的生長(zhǎng)是在高溫下,通過(guò)TMGa分解出的GaNH3的化學(xué)反應(yīng)實(shí)現(xiàn)的,生長(zhǎng)GaN需要一定的生長(zhǎng)溫度,且需要一定的NH3分壓。其可逆的反應(yīng)方程式為: 

 



目前,通常采用的方法有常規(guī)金屬有機(jī)物氣相沉積法(包括APMOCVDLPMOCVD、等離子體增強(qiáng)MOCVD等)分子束外延法和氫化物氣相外延法

 

1金屬有機(jī)物氣相沉積法(MOCVD

 

MOCVD是在氣相外延生長(zhǎng)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種新型氣相外延生長(zhǎng)技術(shù)。在采用MOCVD 法制備GaN 單晶的傳統(tǒng)工藝中,通常以三甲基鎵作為鎵源,氨氣作為氮源,以藍(lán)寶石(Al2O3)作為襯底,并用氫氣和氮?dú)獾幕旌蠚怏w作為載氣,將反應(yīng)物載入反應(yīng)腔內(nèi),加熱到一定溫度下使其發(fā)生反應(yīng),能夠在襯底上生成GaN 的分子團(tuán),在襯底表面上吸附、成核、生長(zhǎng),最終形成一層GaN 單晶薄膜。

 

該方法優(yōu)點(diǎn):制備的產(chǎn)量大,生長(zhǎng)周期短,適合用于大批量生產(chǎn)。

 

缺點(diǎn)是:生長(zhǎng)完畢后需要進(jìn)行退火處理,最后得到的薄膜可能會(huì)存在裂紋,會(huì)影響產(chǎn)品的質(zhì)量。

 

2、分子束外延法 MBE

 

MBE 法制備GaN MOCVD法類似,主要的區(qū)別在于鎵源的不同。MBE 法的鎵源通常采用Ga 的分子束,NH3 作為氮源,制備方法與MOCVD 法相似,也是在襯底表面反應(yīng)生成GaN

 

該方法優(yōu)點(diǎn)是:(1)可以在較低的溫度下實(shí)現(xiàn)GaN 的生長(zhǎng),一般為700 ℃左右;(2)可以在制備過(guò)程中對(duì)生成GaN 膜的厚度進(jìn)行精確控制,有利于對(duì)該工藝中的生長(zhǎng)機(jī)理進(jìn)行深入研究。

 

缺點(diǎn)是:反應(yīng)時(shí)間會(huì)比較長(zhǎng),生產(chǎn)效率低,因此不適合大規(guī)模生產(chǎn)。

 

3、氫化物氣相外延法(HVPE

 

HVPE通常以鎵的氯化物GaCl為鎵源,NH3 為氮源,在襯底上以1000 ℃左右的溫度生長(zhǎng)出GaN 晶體。

 

優(yōu)點(diǎn)是:生成的GaN晶體質(zhì)量比較好,且在較高的溫度下生長(zhǎng)速度快。

 

缺點(diǎn)是:高溫反應(yīng)對(duì)生產(chǎn)設(shè)備、生產(chǎn)成本和技術(shù)要求都比較高。

 

GaN制備方法對(duì)比表

 

 

三、GaN材料應(yīng)用

 

由于對(duì)高速、高溫和大功率半導(dǎo)體器件需求的不斷增長(zhǎng),使得氮化鎵材料器件逐漸被半導(dǎo)體市場(chǎng)應(yīng)用。

1、新能源領(lǐng)域

 

在可再生能源領(lǐng)域,在將風(fēng)電和太陽(yáng)能電力接入電網(wǎng)以及減少輸電損耗方面,GaN材料都發(fā)揮了極其重要的作用;綠色能源、電動(dòng)汽車、綠色電子照明等新興領(lǐng)域正在成為功率器件市場(chǎng)應(yīng)用的新熱點(diǎn),需求強(qiáng)勁。

 

 

 

2、智能電網(wǎng)領(lǐng)域

 

 

GaN材料功率半導(dǎo)體在提高整個(gè)電力供應(yīng)鏈,從發(fā)電、輸配電到最后的用電的能效方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。

 

 

 

3、信息通訊設(shè)備領(lǐng)域

 

增強(qiáng)型氮化鎵電晶體表現(xiàn)出高耐輻射性能,從而適用于通訊和科學(xué)衛(wèi)星的功率和通訊系統(tǒng);點(diǎn)到點(diǎn)通信、衛(wèi)星通信、各種雷達(dá)和新型工業(yè)/醫(yī)療應(yīng)用都將從這些大功率氮化鎵器件的應(yīng)用中獲益。

 

 

 

4、國(guó)防軍工領(lǐng)域

 

氮化鎵射頻器件產(chǎn)品性能在寬帶、效率、高頻等三個(gè)方面全面超越GaAs 器件,主要用于航空航天、軍事雷達(dá)、衛(wèi)星等高端高性能應(yīng)用場(chǎng)景,例如在航空航天領(lǐng)域用于高溫下工作的傳感器、電子控制系統(tǒng)以及功率電子器件等,戰(zhàn)略位置顯著。

 



作者:李波濤

作者:粉體圈

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