每一種粒度測試方法都是測量不同基準下顆粒的某一物理特性，可以根據多種不同的方法得到不同的平均結果（如個數基準下D[4,3]，D[3,2] 等），但是究竟實際使用時怎么樣選擇平均粒徑？
舉一個簡單的例子：兩個直徑分別為1和10的球體，對冶金行業，如果計算簡單的個數平均直徑，得到的結果是：D[1,0]=(1+10)/2=5.5。但是如果感興趣的是物質的質量，而質量是直徑的三次函數，這樣，直徑為1的球體的質量為1，直徑為10的球體的質量為1000。也就是說，大球體占系統總質量的99.9%。在冶金上即使舍去粒徑為1的球體，也只會損失總質量的0.1%。因此，簡單的個數平均不能精確反映系統的質量，而用D[4,3]能更好地反映顆粒的平均質量。
在上述兩個球體的例子中，質量矩體積平均徑計算如下：
該值能比較充分地表示系統的質量，對某些行業非常重要。
但是對于一間制造大規模集成電路的潔凈房間來說，顆粒的數量或濃度就是最重要的了，因為若有一個顆粒落在硅片上，就將會產生一個疵點，產品就可能報廢。這時需要采用一種能直接測量顆粒的數量或濃度的方法。對于顆粒計數來說，記錄下顆粒個數就可以了，在此場合顆粒的大小反而顯得不重要了。
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作者：粉體圈
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