在粉體工業領域內，研發和生產人員對于粉體比表面積的認識，一般認為是對粒徑關注的更高一個層次。實際生產過程中，粉體實驗室中多數是先購買粒度儀，然后再考慮進一步購置比表面積儀的需求。用過激光粒度儀的朋友都知道，粒度儀報告也會給出比表面積的數據，但它是假設粉體顆粒是實心球體的狀態下通過粒度分布數據計算出來的理論值。這個數據隨著平均粒徑的變小而變大。如果您需要知道更進一步的真實數據，比表面積儀就是必不可少的，也是激光粒度儀無法替代的。在高端氧化鋯粉體的制備過程中，比表面積測試就非常重要。

精微高博推出的JW-DX比表面儀曾經獲得發明專利

通過對氧化鋯粉體比表面積的測試，可以考察材料的活性、吸附、催化等多種性能的重要物理屬性。對于特種陶瓷的制備，一般來說，比表面積大時，應用燒結時的反應活性大，有利于制品的燒結。然而，對于實際應用過程中，如何制備低比表面積高燒結活性的氧化鋯粉體更具有挑戰性。中科院上海硅酸鹽研究所2012年公布的一個項目就是從國產共沉淀法高比表面積氧化鋯粉體出發，制備低比表面積高燒結活性氧化鋯粉體，成功解決了利用國產低成本氧化鋯粉體注射成型制造陶瓷插芯等高精度復雜形狀產品的技術難題，提高了我國四方相氧化鋯陶瓷的技術水平。

有了中科院上硅所這個案例，我們可以更加深入認識粉體比表面積測試測試的意義了。對于突破性地制備氧化鋯粉體，不僅僅是測試一下粉體粒度分布，看看激光法給出的理論比表面積數據就完事了，更確切的數據還需要專業的儀器來完成。

成立于2004年的精微高博公司是中國氮吸附法比表面儀的開拓者和領航者，在氧化鋯行業應用領域中，東方鋯業等大型企業的實驗室早早就購置了精微高博推出的JW-DX比表面儀，并給予了充分肯定：測試精準、使用率高、是氧化鋯產品品質控制中不可或缺的設備。我們祝福精微高博在納米復合氧化鋯領域中，取得更大的成績，尤其是抓住氧化鋯手機蓋板和陶瓷牙等新興產業的市場機會。

粉體圈  作者：敬之