隨著超細粉體材料普及應用，粉體研發和生產人員對粉體的認識也不斷提升，看似昂貴的電鏡作為一種比較直觀的檢測設備也開始被廣泛的應用，電鏡圖片也隨處可見。那么如何分析這些檢測結果，電鏡對粉體工業的發展有哪些指導意義呢？

掃描電鏡SEM可以觀察物體的表面形貌,也可用于做成分的定性和半定量分析；透射電鏡TEM可用于觀察內部顯微結構，而且TEM的倍數要比SEM大得多，TEM很多用于觀察納米級別的試樣。當然，電鏡專業的使用者一定會清晰地認識這些電鏡的基本功能，以及電鏡的操作規范。

平均粒徑5微米的碳化硅微粉SEM照片

然而，對于很多粉體生產廠家而言，往往只是拿到了在科研機構出具的電鏡報告，具體如何解讀，還需要自己來完成，那么學習電鏡的基礎知識就顯得非常必要。

2016年12月8日，從“顆粒表征”到“粉體表征”2016珠海論壇(即：2016年全國粉體檢測與評價技術應用交流會)，將邀請北方民族大學江涌教授給大家分享電鏡的知識，并以碳化硅粉體為實例做案例分析。

電鏡下的球形玻璃微珠

江涌教授簡介：

北方民族大學教授，研究生導師，西北四省電子顯微學會常務理事兼副理事長。研究方向：特種陶瓷及顯微結構表征。主持國家自然科學基金、省部級自然科學基金課題。曾參與國家863、國家自然基金、國際合作項目等多項課題研究。發表論文30余篇，其中SCI、EI檢索近10篇。

粉體圈 作者：沐恩