報告和文章以“全面”或者“匯總”為題的并不多見，一方面或許擔心內容廣泛和綜合不如聚焦和具體更吸引關注，更多則是因為這需要大量的深入研究以及詳盡的個案分析，力有不逮。粉體材料微結構與產品質量控制、成本控制、工藝優化息息相關，從粉體制備到應用的各個關鍵過程中，微結構表征都是必要的，而且發揮著越來越重要的作用。

例如：

X射線衍射是粉體檢測時非常有力的工具，通常用于研究和分析粉體樣品的結晶結構和相變行為。具體原理是X射線照射到加載的粉體樣品上發生相互作用后形成衍射圖案，通過探測器對圖案記錄和測量XRD圖譜，對晶型和組成含量等信息進行定性和定量分析。除此以外，它能實現的功能其實非常多，有一些并不為人所熟知。

掃描電鏡（SEM）和能譜分析(EDS）已經隨著桌面電鏡近年來的加速普及而逐步常態化，SEM圖像可觀察顆粒形貌，分析顆粒大小和分布；EDS則提供樣品元素組成和相對含量的詳細分析。但樣品制備和檢測環境往往會對檢測結果造成較大影響，提高重現性和準確性是實驗室操作人員工作中必須攻克的障礙。

透射電鏡（TEM）以其高分辨和成像能力而主要用于納米材料的觀察分析，細節能力達到晶格結構、原子排列的水平。但是透射電鏡使用門檻較高，不僅樣品制備比較復雜，經常會用到離子薄層切割和磨蝕等技術和裝備，并且往往需要進行導電處理；重要的是數據龐大，細節復雜，檢測人員的專業知識和經驗水平很可能會導致出現分析結論的主觀性差異。

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粉體材料的復雜和多樣性給從業人員帶來諸多困擾，確實需要有概括和綱領性的文件來指點迷津。陳亮維博士從最初應用物理學習到之后的研發測試工作，再又回歸到實驗和理論教學，是少有的理論與實踐結合，搞學術又接地氣的“工業醫生”，擅長解決研發生產及應用中的實際問題；更重要的是他不僅擁有強大專業能力并且愿意付出成倍時間精力，不僅為電子材料行業，更是為整個粉體工業做出了重要貢獻。本次“2023全國粉體檢測與表面修飾技術交流會（第七屆）”上，他報告的主要內容包括：

1、介紹X射線衍射方法在粉體微結構表征中的應用（真實密度、孔隙率、合金化程度和固溶度、石墨化度……）；

2、掃描電鏡及能譜元素分析在粉體形貌及元素分布表征中容易被人忽略的細節；3、透射電鏡數據分析的難點（對衍射花樣全面深入解讀）；

4、探討粉體材料微結構數據及物理參數，如比表面、粒度分布、熔點等等，與產品質量的相關性問題（導電銀漿、電極材料、熱敏電阻粉體等性能）。

報告人簡介

陳亮維博士目前在昆明理工大學材料學院從事本科生實驗教學、研究生和博士生的“材料晶體衍射結構表征”理論教學，主持過關鍵航空材料的失效分析及質量控制項目，某武器的失效分析及質量控制項目，承擔了貴金屬粉體制備及應用的技術攻關項目，多次獲得國際晶體衍射組織（ICDD）頒發的杰出貢獻獎，獲得云南省學術帶頭人稱號。

非常值得一提的是，他對材料晶體結構表征的某些科學質疑發表在軍工期刊哈爾濱工業大學學報(英文版)上，將材料晶體結構表征的工作經驗、科學推導和質疑編著成《材料晶體衍射結構表征》即將出版，為相關專業的學子、科研和工作人員提供更切實有效的啟迪和幫助。

粉體檢測與表面修飾交流會會務組

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