2023年2月，《顆粒粒度測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》（第二版）正式出版，它不僅在前一版基礎(chǔ)上補(bǔ)充了最新的研究成果，還對(duì)部分章節(jié)結(jié)構(gòu)作了調(diào)整，并且補(bǔ)充修訂了與顆粒測(cè)量相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)目錄等內(nèi)容。其中，圖像測(cè)量方法不再局限于對(duì)微米級(jí)以上顆粒的成像測(cè)量，也應(yīng)用于納米顆粒的粒度測(cè)試，這是顆粒測(cè)量方法、技術(shù)和儀器在十多年間取得發(fā)展進(jìn)步的明證。筆者專門(mén)提及，也是因?yàn)樵H歷其中而深有感觸。

《顆粒粒度測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》（第一版 右，第二版 左）

引子

2010年某天，筆者還在國(guó)內(nèi)某著名激光粒度儀企業(yè)工作時(shí)，無(wú)意中看到出差同事帶回來(lái)的《顆粒粒度測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用》（第一版），它很快成為新入職員工培訓(xùn)教材之一。當(dāng)時(shí)筆者沒(méi)有想到，此后在粉體圈能有機(jī)會(huì)聆聽(tīng)本書(shū)主要作者蔡小舒教授分享的報(bào)告，而他和專業(yè)聽(tīng)眾的互動(dòng)答疑同樣精彩和難忘。

在包括蔡小舒教授（左三）在內(nèi)的多位業(yè)內(nèi)學(xué)者、專家支持下，粉體圈專家委員會(huì)正式成立（2016年）

時(shí)隔十多年，世界發(fā)生了太多變化，于筆者而言，一直沒(méi)變的大概是自己依然服務(wù)于粉體工業(yè)——從著名學(xué)者專家，到頂尖設(shè)備儀器，或多或少的信息接觸和知識(shí)熏陶下，愚鈍如我也能感受到顆粒測(cè)量技術(shù)的突飛猛進(jìn)。

圖像測(cè)量進(jìn)步側(cè)寫(xiě)

印象最深是在2016年珠海舉辦的首屆全國(guó)粉體檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)應(yīng)用交流會(huì)上，時(shí)任中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)副理事長(zhǎng)兼顆粒測(cè)試專業(yè)委員會(huì)副主任的蔡小舒教授提出：粉體檢測(cè)儀器未來(lái)是朝著圖像處理分析的趨勢(shì)發(fā)展的觀點(diǎn)。對(duì)于彼時(shí)的粒度測(cè)試技術(shù)而言，亟待解決的最大難題就在于不同大小顆粒拍攝的對(duì)焦。比如同時(shí)拍攝不同大小的物品，很難做到同樣清晰。同理，樣品粒徑分布越寬，這個(gè)問(wèn)題就越嚴(yán)重。所以當(dāng)時(shí)基于圖像法進(jìn)行粒度粒形測(cè)試的裝備的測(cè)試范圍還遠(yuǎn)不能和基于衍射法進(jìn)行粒度檢測(cè)的普通粒度儀相比，尤其是到達(dá)亞微米級(jí)別會(huì)非常困難。

令人感動(dòng)的是，次年召開(kāi)的第二屆全國(guó)粉體檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)應(yīng)用交流會(huì)，蔡小舒教授便帶來(lái)了“納米顆粒的圖像法測(cè)量原理與應(yīng)用實(shí)踐”的報(bào)告。提出問(wèn)題并朝著解決問(wèn)題前行，這樣的知行合一學(xué)者風(fēng)范令人敬仰！與此同時(shí)，不斷涌現(xiàn)新的技術(shù)和儀器開(kāi)始真正解決上述問(wèn)題。

比如遠(yuǎn)心鏡頭，它可以在一定的物距范圍內(nèi)，使得到的圖像放大倍率不會(huì)變化，這對(duì)被測(cè)物不在同一物面上的情況是非常重要的應(yīng)用；比如液體變焦鏡頭，它通過(guò)改變液體透鏡的形狀或折射率來(lái)實(shí)現(xiàn)焦距的調(diào)節(jié)，可以簡(jiǎn)單理解為同時(shí)高清拍攝大小迥異的顆粒……

就筆者所知，蔡小舒教授還在多個(gè)國(guó)內(nèi)和國(guó)際粉體檢測(cè)技術(shù)會(huì)議上還做過(guò)“在線粉體粒度測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用”、“納米粉體新型測(cè)量技術(shù)”等等業(yè)內(nèi)最前沿也最關(guān)心的科研報(bào)告，不僅引領(lǐng)國(guó)內(nèi)粒度檢測(cè)行業(yè)的戰(zhàn)略發(fā)展方向，也給關(guān)心特定粒徑范圍微粉制備如金剛石等行業(yè)帶來(lái)切實(shí)幫助。

關(guān)于作者

上海理工大學(xué)顆粒與兩相流測(cè)量研究所所長(zhǎng)蔡小舒教授及課題組成員長(zhǎng)期從事顆粒粒度測(cè)量方面的研究和教學(xué)工作，先后得到國(guó)家自然科學(xué)基金重點(diǎn)項(xiàng)目和面上項(xiàng)目、國(guó)家 863計(jì)劃項(xiàng)目、國(guó)家 973計(jì)劃項(xiàng)目、上海市“科技創(chuàng)新行動(dòng)計(jì)劃”納米科技項(xiàng)目等多個(gè)項(xiàng)目的支持，開(kāi)展光散射理論、基于光散射原理的多種顆粒測(cè)量方法、基于超聲的多種顆粒測(cè)量方法、納米顆粒測(cè)量方法、圖像法、顆粒在線測(cè)量等方面的研究，在顆粒測(cè)量基礎(chǔ)理論和測(cè)量方法及技術(shù)方面取得多項(xiàng)成果。

關(guān)于本書(shū)（第二版）

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內(nèi)容簡(jiǎn)介

第二版圖書(shū)分為四部分。第一部分介紹了顆粒粒度的基本知識(shí)；第二部分系統(tǒng)介紹了光散射理論、超聲散射理論和圖像處理理論等，以及基于上述理論發(fā)展的各種顆粒測(cè)量技術(shù)，其粒度測(cè)量范圍覆蓋了在科學(xué)研究及各領(lǐng)域和行業(yè)應(yīng)用涉及的從納米到毫米粒度范圍；第三部分介紹了顆粒粒度測(cè)量?jī)x器和應(yīng)用，并引入其它顆粒測(cè)量技術(shù)作為補(bǔ)充；第四部分為作者多年來(lái)收集的大量物質(zhì)的折射率和其它物性參數(shù)，以及國(guó)際和國(guó)內(nèi)有關(guān)顆粒測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)等資料。

本書(shū)適合從事顆粒科學(xué)研究與應(yīng)用的科研人員和工程技術(shù)人員參考，也可作為高等學(xué)校相關(guān)學(xué)科教師和研究生的教材或參考書(shū)。