日前,真理光學(xué)在其不久前推出納米粒度儀的基礎(chǔ)上增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能,推出了納米粒度及Zeta電位儀新品。
Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀
隨著國內(nèi)粉體工業(yè)的迅速發(fā)展,對于顆粒物性參數(shù)的理解和應(yīng)用也就越多。而Zeta電位測量應(yīng)用廣泛,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),以制藥為例,其對乳劑、混懸劑及脂質(zhì)體等配方研究必須測量Zeta電位。真理光學(xué)此次推出新品,對于關(guān)注和需要顆粒表征的領(lǐng)域來說,意味著有了更多選擇;對于真理光學(xué)來說,則不僅僅是推出一款新儀器新產(chǎn)品,更意味著產(chǎn)品線的進(jìn)一步完善,當(dāng)然也是企業(yè)發(fā)展進(jìn)入全新階段的開始。
筆者在粒度儀行業(yè)有工作經(jīng)驗(yàn),以上認(rèn)識(shí)正基于此。2010年前后,納米粒度分析系統(tǒng)依然處在國產(chǎn)儀器的真空區(qū);就在不到兩年前,基于動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)和電泳法的國產(chǎn)納米粒度和zeta電位測量系統(tǒng)才突破國外技術(shù)壁壘。中國粉體工業(yè)的整體進(jìn)步,很大程度上要?dú)w功于國產(chǎn)激光粒度儀研發(fā)生產(chǎn)商的不斷進(jìn)取。
以下是Nanolink S900/ SZ900納米粒度及Zeta電位儀 的詳細(xì)介紹及參數(shù)特點(diǎn):
Nanolink S900是基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng),被廣泛應(yīng)用于有機(jī)及無機(jī)顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征。SZ900在S900納米粒度測量功能的基礎(chǔ)上,增加了膠體顆粒的Zeta電位測量功能。
項(xiàng)目 | 性能指標(biāo)或描述(右上角標(biāo)“*”者僅適用于SZ900) |
測量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法、電泳法* |
粒徑范圍 | 0.6nm-10μm |
準(zhǔn)確度 | 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標(biāo)樣) |
重復(fù)性 | 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST 可溯源乳膠標(biāo)樣) |
最小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
最小樣品量 | 20μl |
測量角度 | 經(jīng)典90度 |
溫度控制范圍 | 0℃-90℃ (120℃選配) |
溫度控制精度 | ±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥氣體吹掃 |
激光器 | 532nm固體激光器,最大功率50mW, 激光輸出自動(dòng)可調(diào) |
激光安全等級 | 1類 |
相關(guān)器 | 最小采樣時(shí)間25ns, 動(dòng)態(tài)范圍>1011 |
檢測器 | 高靈敏度極低暗電流PMT (APD可選) |
Zeta電位測量范圍* | -600mW |
樣品最大電導(dǎo)率* | 200mS/cm |
適用粒徑范圍* | 3.5nm |
光學(xué)系統(tǒng)重量 | 25kg |
光學(xué)系統(tǒng)尺寸 | 578mm x 397mm x 248mm(LxWxH) |
注:* 取決于樣品
Nanolink S900納米粒度分析儀技術(shù)特點(diǎn)包括:
◆ 經(jīng)典90°動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)
◆ 粒徑范圍:0.6nm-10μm
◆ 新一代高速數(shù)字相關(guān)器,最小采樣時(shí)間25ns,動(dòng)態(tài)范圍大于1011
◆ 集成光纖技術(shù)的軍品級PMT檢測單元(APD可選)
◆ 532nm 50mW大功率固體激光器,能量輸出自動(dòng)調(diào)節(jié)
◆ 溫控范圍0℃-90℃,精度±0.1℃
◆ 冷凝控制-- 干燥氣體吹掃技術(shù)
粉體圈 整理
作者:粉體圈
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