近日，真理光學隆重推出了包含全球首創的衍射愛里斑反常變化（ACAD）的補償修正技術在內的LT2200系列全新一代激光粒度分析儀。此項技術的商品化應用將給激光粒度儀行業帶來深刻影響和變化。

此前，張福根博士和他的學生發現了“愛里斑”尺寸的反常變化，即球形顆粒散射的愛里斑尺寸有時會隨粒徑的增大而增大的現象。此后，張福根博士在多個學術或商業會議中將此項重大發現公布并與業界學者進行討論。最近一次是在今年4月初英國倫敦舉行的ISO/TC24/SC4國際年會上，張博士做了學術報告并與國際粒度儀代表就此問題進行探討。

粉體圈也曾就“愛里斑”反常變化方面的問題，對張福根博士進行采訪。但沒想到的是這么快，真理光學就將問題的解決方案拿出來，并將此應用到了激光粒度儀產品中。據悉，LT2200系列粒度儀是真理光學繼LT3600系列激光粒度儀，Spraylink超高速智能噴霧粒度儀和Nanolink納米粒度儀之后，基于用戶對高性價比儀器的需求而傾力打造的全新一代超高速智能激光粒度分析系統。

LT2200系列激光粒度儀加持了真理光學的偏振濾波專利技術，摒棄傳統的針孔和機械調整，實現高穩定激光偏振設置和空間濾波；真理光學首創的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術的使用，使用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果；LT2200系列粒度儀還采用了真理光學獨創的高速全息信號處理技術，測量速度高達創紀錄的每秒20000次，確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒； LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥，電池材料，地質，水文，化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。

粉體圈 郜白