2024年10月25-28日，蘇州召開第十三屆中國(guó)顆粒大會(huì)期間，真理光學(xué)舉行PATlink系列在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)新品發(fā)布儀式。真理光學(xué)開發(fā)出哪些新技術(shù)，又解決了業(yè)界哪些老問題，粉體圈通過現(xiàn)場(chǎng)采訪和信息收集為用戶求解。

測(cè)量范圍：1-3000μm

PATlink3000是真理光學(xué)繼2021年發(fā)布PATlink1000后對(duì)粉體工業(yè)實(shí)時(shí)在線粒度監(jiān)測(cè)與控制系統(tǒng)的全新升級(jí)，最突出的亮點(diǎn)在于極大加強(qiáng)了大顆粒測(cè)量能力，最大粒徑從原來的1000μm提升到3000μm。這次升級(jí)直接利好對(duì)較大顆粒或顆粒聚集體有測(cè)量需求的用戶，儀器具備更廣泛適用性也意味著提升了其在不同行業(yè)的應(yīng)用潛力。設(shè)備升級(jí)背后其實(shí)是測(cè)量技術(shù)的升級(jí)，通過發(fā)布現(xiàn)場(chǎng)對(duì)真理光學(xué)董事長(zhǎng)張福根博士的采訪我們獲悉，真理光學(xué)在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)的特點(diǎn)主要基于對(duì)窗口保護(hù)、樣品稀釋分散和取樣三大方向的改進(jìn)提升。

一、窗口保護(hù)

液體鞘流保護(hù)技術(shù)（發(fā)明專利：ZL201910698536.8），顧名思義是一種激光粒度儀濕法測(cè)量技術(shù)，它利用不會(huì)干擾測(cè)量的保護(hù)液流包圍含有待測(cè)顆粒的主液流形成一個(gè)保護(hù)鞘，以此防止顆粒直接接觸繼而沉積或粘附在測(cè)試窗口上。

該技術(shù)雖然是為需要持續(xù)、高效、高精度濕法在線系統(tǒng)而開發(fā)，但張博士表示它在今后對(duì)實(shí)驗(yàn)室儀器的改造也大有好處——玻璃窗口污染是困擾濕法測(cè)量的世界性難題，尤其對(duì)于測(cè)量強(qiáng)度大，樣品數(shù)量多非常有影響，清洗窗口和光路調(diào)節(jié)都嚴(yán)重降低工作效率，甚至于導(dǎo)致測(cè)量誤差。

二、樣品稀釋分散

樣品稀釋分散是激光粒度儀測(cè)量高濃度樣品的前置，它主要用于樣品解聚，降低遮光效應(yīng)，以及減少多重散射，確保數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。濕法稀釋與控制單元（專利號(hào)：202422474457.8）可實(shí)現(xiàn)快速稀釋和分散高濃度樣品，

該單元集成了包括鞘流槽、進(jìn)樣槽、前置稀釋器和分散劑罐等多個(gè)組件，同時(shí)還內(nèi)置了兩級(jí)獨(dú)立攪拌和管道式大功率超聲分散功能的樣品預(yù)處理裝置，其顯著特點(diǎn)是：稀釋比例可達(dá)1-10萬分之一，稀釋時(shí)間縮短至最多只需3mins，稀釋液總量約500mL，良好的分樣代表性，超強(qiáng)的分散能力。相比傳統(tǒng)方法，大幅減少用時(shí)也大量節(jié)省用水。 

三、取樣

與實(shí)驗(yàn)室儀器相比，在線系統(tǒng)面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是取樣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，要保證取樣清潔無污染，有代表性，同時(shí)必須集成在生產(chǎn)線控制系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量，往往不同的粉體生產(chǎn)場(chǎng)景須對(duì)應(yīng)不同的取樣器。真理光學(xué)開發(fā)設(shè)計(jì)了多種濕法和干法取樣器，滿足不同粉體生產(chǎn)工藝需要，其中的滑移式取樣器(專利號(hào):202422474456.3)能夠?qū)崿F(xiàn)可靠定量取樣，對(duì)濕法測(cè)量有顯著提升。

面對(duì)高粘高濃樣品易團(tuán)聚，高密度顆粒沉降，傳統(tǒng)泵吸式在線取樣往往出現(xiàn)代表性差，測(cè)量結(jié)果偏差問題。滑移式取樣器則可以滑動(dòng)到達(dá)不同的取樣點(diǎn)取樣，是專門針對(duì)高濃度濕法研磨設(shè)備（例如，砂磨機(jī)）而開發(fā)的取樣器，富有新意而且能夠巧妙解決實(shí)際問題。

四、PATlink 在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)部分應(yīng)用場(chǎng)景

PAT系列在線激光粒度監(jiān)控系統(tǒng)是真理光學(xué)基于多年積累的粒度表征技術(shù)及自動(dòng)化過程控制技術(shù)開發(fā)的新一代實(shí)時(shí)在線粒度監(jiān)測(cè)與控制系統(tǒng)，粒度范圍涵蓋0.1μm至3000μm，適合干法和濕法的生產(chǎn)工藝過程，既可用于在線粒度測(cè)量，也可以用于現(xiàn)場(chǎng)手動(dòng)取樣的粒度分析。PAT 系列具有穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)和先進(jìn)的技術(shù)支撐，以滿足苛刻、復(fù)雜的過程工藝環(huán)境對(duì)連續(xù)粒度測(cè)量和控制的要求，被廣泛應(yīng)用于電池材料、水泥、面粉加工、粉末冶金、3D打印、制藥、先進(jìn)陶瓷、拋光液、粉末涂料、色漿顏料等產(chǎn)品生產(chǎn)的粒度自動(dòng)控制。

注：

PATlink 1000：濕法0.1-1000μm，干法0.2-1000μm

PATlink 3000：1-3000μm（干、濕法相同）

張福根博士詳談?wù)胬砉鈱W(xué)新品

關(guān)于真理光學(xué)

真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)與制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀,（動(dòng)態(tài)光散射法）納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，從微米到納米，從濕法到干法，從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供先進(jìn)的高端產(chǎn)品和解決方案。

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