型號(hào) | JW-DX | JW-DA |
測(cè)試原理 | 低溫氮吸附,流動(dòng)色譜法 |
方法特色 | 發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)。 采用吸附峰,與靜態(tài)容量法相同,四個(gè)樣品獨(dú)立測(cè)試,無(wú)干擾,信號(hào)峰尖銳,<10m2/g小比表面樣品測(cè)試精度明顯提高 | 傳統(tǒng)脫附技術(shù)。 采用脫附峰,四個(gè)樣品并聯(lián)不獨(dú)立,信號(hào)峰被沖淡,不適合<10m2/g小比表面樣品的精確測(cè)試 |
測(cè)試功能 | 對(duì)比法比表面積測(cè)試; 單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試 | 對(duì)比法比表面積測(cè)試; 單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積測(cè)試 |
測(cè)試氣體 | 高純氮?dú)猓?9.999%)+ 高純氦氣(99.999%) |
氮分壓P/P0范圍 | 0.05-0.35 (多點(diǎn)BET) |
測(cè)試范圍 | 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限,不適用于微孔材料檢測(cè) | 比表面積0.01m2/g至無(wú)已知上限,不適用于微孔材料檢測(cè) |
重復(fù)精度 | 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.0%; 與靜態(tài)容量法測(cè)試精度高度一致 | 炭黑標(biāo)準(zhǔn)樣品≤± 1.5%; |
分析站 | 4個(gè) | 4個(gè) |
測(cè)試效率 | 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需5min; 多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需25min; | 對(duì)比法測(cè)試每個(gè)樣品約需9min; 多點(diǎn)BET測(cè)試每個(gè)樣品約需30min; |
主機(jī)規(guī)格 | 長(zhǎng)610mm×寬460mm×高680mm,重量約48Kg; |
環(huán)境溫度要求 | 室溫,建議配備空調(diào) |
環(huán)境濕度要求 | 10%-90% |
電源要求 | 交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W,電流5A ; |
推薦應(yīng)用領(lǐng)域 | 石墨、三元材料、磷酸鐵鋰、錳酸鋰、鈷酸鋰等等電池正負(fù)極材料;醫(yī)藥輔料;金屬粉末;金屬氧化物粉末;稀土發(fā)光材料;納米碳酸鈣;等等 | 磷酸鐵鋰正極材料;鈦白粉;納米碳酸鈣等無(wú)機(jī)非金屬材料;等等 |